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SN74ABTH18646APM

SN74ABTH18646APM

IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
部品番号
SN74ABTH18646APM
メーカー/ブランド
シリーズ
74ABTH
部品のステータス
Active
包装
Tray
動作温度
-40°C ~ 85°C
取付タイプ
Surface Mount
パッケージ・ケース
64-LQFP
サプライヤーデバイスパッケージ
64-LQFP (10x10)
供給電圧
4.5 V ~ 5.5 V
ビット数
18
ロジックタイプ
Scan Test Device With Transceivers And Registers
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