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SN74BCT8374ADW

SN74BCT8374ADW

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
部品番号
SN74BCT8374ADW
メーカー/ブランド
シリーズ
74BCT
部品のステータス
Active
包装
Tube
動作温度
0°C ~ 70°C
取付タイプ
Surface Mount
パッケージ・ケース
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
サプライヤーデバイスパッケージ
24-SOIC
供給電圧
4.5 V ~ 5.5 V
ビット数
8
ロジックタイプ
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
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