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8V182512IDGGREP

8V182512IDGGREP

IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP
部品番号
8V182512IDGGREP
メーカー/ブランド
シリーズ
-
部品のステータス
Active
包装
Cut Tape (CT)
動作温度
-40°C ~ 85°C
取付タイプ
Surface Mount
パッケージ・ケース
64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
サプライヤーデバイスパッケージ
64-TSSOP
供給電圧
2.7 V ~ 3.6 V
ビット数
18
ロジックタイプ
ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
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